設備通過測試得到保護結構在ESD脈沖作用下的I-V特性曲線和開啟電壓、維持電壓、維持電流、二次擊穿電流等關鍵電參數,從而驗證ESD保護結構是否達到設計要求。通過測試得到電路端口在ESD脈沖下的I-V特性曲線和開啟電壓、維持電壓、維持電流、二次擊穿電流等電參數,從而可分析集成電路的抗ESD特性。通過對研究對象施加TLP應力,分析研究對象在ESD應力下的特性變化和失效機理。
1.適用于集成電路的研制、生產、檢測、認證、使用單位
2.設備用于測量集成路ESD保護電路的設計和分析工具
名稱 | 傳輸線脈沖測試系統 |
型號 | TLP50(Time Domain Reflection) |
標準條款 | ANSI ESD STM 5.5.1、IEC 62615 |
尺寸 | 700(W)*850(D)*1650(H)mm |
供電要求 | AC220V,50Hz,10A |
傳輸線脈沖測試模式 | TDR(Time Domain Reflection) |
脈沖寬度 | 50ns、100ns、200ns |
脈沖上升時間 | 3ns,可選5ns、10ns等 |
最大短路電流 | ≥20A |
最大開路電壓 | ≥1000V |
標配測試夾具 | 標配48Pin DIP測試板 |
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